Testausmenetelmät ja tarkastussäännöt
1. Eräkohtainen tarkastus (ryhmän A tarkastus)
Jokainen tuote-erä on tarkastettava taulukon 1 mukaisesti, ja kaikki taulukon 1 tuotteet ovat vahingoittumattomia.
Taulukko 1 Tarkastus erää kohden
| Ryhmä | Tarkastuskohde | Tarkastusmenetelmä | Kriteeri | AQL (Ⅱ) |
| A1 | Ulkomuoto | Silmämääräinen tarkastus (normaaleissa valaistus- ja näköolosuhteissa) | Logo on kirkas, pintapinnoitteella ja pinnoitteella ei ole hilseilyä ja vaurioita. | 1.5 |
| A2a | Sähköiset ominaisuudet | 4.1 (25 ℃), 4.4.3 (25 ℃) JB/T 7624—1994 | Käänteinen napaisuus: VFM> 10 USLIRRM> 100 USL | 0,65 |
| A2b | VFM | 4.1 (25 ℃) JB/T 7624—1994:ssä | Valitus vaatimuksista | 1.0 |
| IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) JB/T 7624—1994 | Valitus vaatimuksista | ||
| Huomautus: USL on enimmäisraja-arvo. | ||||
2. Määräaikaistarkastus (ryhmän B ja ryhmän C tarkastus)
Taulukon 2 mukaan normaalituotannossa valmiit tuotteet tulee tarkastaa vähintään yksi B- ja C-ryhmän erä vuosittain ja (D) merkityt tarkastuskohteet ovat tuhoavia testejä.Jos alkutarkastus on epäpätevä, lisänäytteenotto voidaan tarkastaa uudelleen liitteen taulukon A.2 mukaisesti, mutta vain kerran.
Taulukko 2 Määräaikaistarkastus (ryhmä B)
| Ryhmä | Tarkastuskohde | Tarkastusmenetelmä | Kriteeri | Näytteenottosuunnitelma | |
| n | Ac | ||||
| B5 | Lämpötilajaksotus (D), jota seuraa tiivistys |
| Mittaus testin jälkeen: VFM≤ 1,1 USLIRRM≤2USLei vuotoa | 6 | 1 |
| CRRL | Anna lyhyesti kunkin ryhmän olennaiset ominaisuudet, VFMja minäRRMarvot ennen testiä ja sen jälkeen sekä testin johtopäätös. | ||||
3. Tunnistustarkastus (ryhmän D tarkastus)
Kun tuote on viimeistelty ja asetettu tuotantoarviointiin, tulee A-, B-, C-ryhmän tarkastusten lisäksi tehdä myös D-ryhmän testi taulukon 3 mukaisesti ja (D) merkityt tarkastuskohteet ovat tuhoavia testejä.Valmiiden tuotteiden normaali tuotanto on testattava vähintään yksi D-ryhmän erä joka kolmas vuosi.
Jos alkutarkastus epäonnistuu, lisänäytteenotto voidaan tarkastaa uudelleen liitteen taulukon A.2 mukaisesti, mutta vain kerran
Taulukko 3 Tunnistustesti
| No | Ryhmä | Tarkastuskohde | Tarkastusmenetelmä | Kriteeri | Näytteenottosuunnitelma | |
| n | Ac | |||||
| 1 | D2 | Lämpösyklin kuormitustesti | Jaksoajat: 5000 | Mittaus testin jälkeen:VFM≤ 1,1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| 2 | D3 | Isku tai tärinä | 100g: pito 6ms, puolisiniaaltomuoto, kaksi suuntaa 3 keskenään kohtisuorassa akselissa, 3 kertaa kumpaankin suuntaan, yhteensä 18 kertaa.20g: 100~2000Hz，2h molempiin suuntiin, yhteensä 6h. | Mittaus testin jälkeen: VFM≤ 1,1 USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
| CRRL | Anna lyhyesti kunkin ryhmän asiaankuuluvat ominaisuustiedot, VFM, IRRMja minäDRMarvot ennen testiä ja sen jälkeen sekä testin johtopäätös. | |||||
Merkintä ja pakkaus
1. Merkitse
1.1 Merkintä tuotteessa sisältää
1.1.1 Tuotenumero
1.1.2 Päätteen tunnistusmerkki
1.1.3 Yrityksen nimi tai tavaramerkki
1.1.4 Tarkastuserän tunnuskoodi
1.2 Logo pakkauksessa tai liitteenä oleva ohje
1.2.1 Tuotteen malli ja vakionumero
1.2.2 Yrityksen nimi ja logo
1.2.3 Kosteuden- ja sateenkestävät kyltit
1.3 Paketti
Tuotteiden pakkausvaatimusten tulee olla kansallisten määräysten tai asiakkaiden vaatimusten mukaisia
1.4 Tuoteasiakirja
Asiakirjassa tulee mainita tuotteen malli, toteutusstandardinumero, erityiset sähkötehovaatimukset, ulkonäkö jne.
ThehitsausdiodiJiangsu Yangjie Runau Semiconductorin valmistamaa käytetään laajalti resistanssihitsauksessa, keski- ja suurtaajuushitsauskoneessa aina 2000 Hz:iin asti.Jiangsu Yangjie Runau Semiconductorin hitsausdiodi on yksi Kiinan sähkön luotettavimmista laitteista erittäin alhaisella eteenpäin suuntautuvalla huippujännitteellä, erittäin alhaisella lämpöresistanssilla, huippuluokan valmistustekniikalla, erinomaisella korvauskyvyllä ja vakaalla suorituskyvyllä maailmanlaajuisille käyttäjille. puolijohdetuotteet.
Postitusaika: 14.6.2023